<table id="ycrct"><menuitem id="ycrct"><input id="ycrct"></input></menuitem></table>
  • <thead id="ycrct"><del id="ycrct"></del></thead>
  • <blockquote id="ycrct"><del id="ycrct"></del></blockquote>
  • 欢迎访问上海辛茨精密仪器有限公司网站!
    客户服务热线: 13952575427
    您的位置: 网站首页 >> 产品中心 >> 工业显微镜 >> OLYMPUS偏光显微镜 > OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜
    产品名称:

    OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜

    产品类别:
    OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像,是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究,都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。
    用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜
    采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取
    • 详细内容

    OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜

    OLYMPUS奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像,是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究,都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。

    用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜

    采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。

    无应力光学元件

    UPLFLN-P无应力物镜得益于奥林巴斯*的设计和制造技术,将内部应力降到了zui低。这就意味着更高的EF值,从而可以得到的图像反差。

    种类丰富的补色器和波长板

    提供了六种不同的补色器,用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量光程差水平范围从0到20λ。针对更方便的测量和高图像反差, 可以使用B e r e k 和Senarmont补色器,它们能在整个视场内改变光程差级别。

    各种补偿板的延迟测量范围

    补偿板

    测量范围

    主要用途

    U-CTB厚型Berek

    0-11,000nm

    较大的延迟测量(R*>3λ)。(结晶、高分子、纤维、光弹性失真等)

    U-CBE Berek

    0-1,640nm

    延迟测量(结晶、高分子、纤维、生物体组织等)

    U-CSE Senarmont

    0-546nm

    延迟测量(结晶、生物体组织等)对比度增强(生物体组织等)

    U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ

    0-55nm

    微小延迟测量(结晶、生物体组织等)
    对比度增强(生物体组织等

    U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ

    0-20nm

    U-CWE2 石英楔子

    500-2,200nm

    延迟的近似测量(结晶、高分子等)

    *R表示延迟。
    为提高测量精度,建议与干涉滤镜45IF546一起使用。(U-CWE2除外)

    相关推荐 More
    没有相关产品信息...
    Copyright ?2017 - 2018 上海辛茨精密仪器有限公司 备案号:沪ICP备18016531号-1
    扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
    访问手机站